Усовершенствованные анализаторы цепей с высокопроизводительными источниками сигналов от компании Keysight Technologies

10.07.2020

Компания Keysight Technologies, Inc. усовершенствовала свои производительные анализаторы цепей PNA и PNA-X для достижения большей гибкости и точности при одновременном ускорении и упрощении требуемых измерений.

Анализаторы цепей являются незаменимыми контрольно-измерительными приборами при разработке и производстве ВЧ и СВЧ оборудования. Их измерительные возможности позволяют исследовать характеристики широкого класса устройств, компонентов и систем. Однако измерения характеристик активных устройств, например, коэффициента шума, компрессии усиления и интермодуляционных искажений, могут быть затруднены особенно для современных высокочастотных устройств.

Усовершенствованные анализаторы цепей PNA и PNA-X используют встроенные источники сигналов, выполненные по патентованной технологии прямого цифрового синтеза (DDS) c низким уровнем гармонических составляющих, что позволяет выполнять точные измерения с малым уровнем фазового шума.

Использование источников с низким уровнем фазового шума позволяет выполнять двухтоновые измерения интермодуляционных искажений с малым значением расстройки частоты между тонами, что ранее было возможно только при использовании высокопроизводительных аналоговых генераторов сигналов.

Новые DDS-источники сигналов повышают производительность широкого спектра измерительных приложений, включая приложения для измерения модуляционных искажений, скалярных параметров и фазы смесителей/преобразователей частоты, а также характеристик I/Q-преобразователей. Предлагая третий ВЧ источник сигналов до 13,5 ГГц, анализатор PNA-X упрощает схему измерений, заменяя внешний генератор для формирования сигналов гетеродина.

Основные особенности усовершенствованных анализаторов цепей PNA и PNA-X:

• Упрощение конфигурации измерительных систем, поскольку анализатор может заменить стойку с несколькими приборами;
• Сокращение времени тестирования благодаря комплексу измерений за одно подключение измеряемого устройства;
• Точное измерение характеристик линейных и нелинейных устройств за счет использования расширенных методик коррекции систематических составляющих погрешностей;
• Ускорение анализа поведения компонентов благодаря сенсорному дисплею и интуитивно понятному интерфейсу пользователя.

По материалам Keysight Technologies
www.keysight.com

О компании: Keysight Technologies