English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(488)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(568)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(466)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Новые микроконтроллеры Texas Instruments MSP430FR2355

Новые микроконтроллеры Texas Instruments MSP430FR2355

08.10.2018

Компания Texas Instruments (TI) представила новые микроконктроллеры, расширившие линейку MSP430 – MSP430FR2355 с конфигурируемыми элементами обработки сигналов. Новые микроконтроллеры, оснащенные сегнетоэлектрическим оперативным запоминающим устройством (FRAM), могут позволить значительно сократить размеры печатной платы, а также расширить диапазон рабочих температур таких измерительных устройствах, как, например, детекторы дыма или автоматические выключатели.

Основные преимущества микроконтроллеров MSP430FR2355:

  • Конфигурируемые элементы обработки сигналов:
    наличие 12-битного ЦАП, программируемого усилителя, 12-битного АЦП и 2х компараторов повышенной точности.
  • Расширенный диапазон температур:
    возможность использования микроконтроллеров в приложениях сбора данных, работающих при температуре до 105 °C
  • Широкий объем памяти новых микроконтроллеров MSP430:
    микроконтроллеры новой версии с ОЗУ до 32 КБ и скоростями центрального процессора до 24 МГц.

Более подробная информация представлена на сайте Texas Instruments по данной ссылке.

www.ti.com


О компании:  Texas Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть