EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Компания Keitley Instruments получает награду за систему измерений полупроводников

Компания Keitley Instruments получает награду за систему измерений полупроводников

27.08.2008

Компания Keitley Instruments, лидер в создании решений в области измерительной техники, объявила о получении престижной награды журнала Semiconductor International «Лучший продукт по мнению редактора» за свою систему измерения полупроводников 4200-CVU, предназначенной для ускорения и облегчения C-V измерений (снятия вольт-фарадных характеристик).

Журнал проводит ежегодные номинации «найти и наградить продукты, созданные компаниями, показывающими непревзойденный уровень мастерства» в индустрии полупроводников.

«C-V измерения  становятся все более важной частью при исследовании и разработке полупроводников», - заявил Марк Хоерстен (Mark Hoersten), вице-президент по развитию бизнеса компании Keithley. «Модель 4200-CVU – это быстрый и простой в использовании измерительный инструмент, который жизненно необходим для исследователей и разработчиков, использующих новые материалы полупроводников для электронных устройств нового поколения, таких, как Смарт-фоны, лэптопы, ноутбуки и др.».

Церемония награждения прошла в середине июля в рамках Западно-торговой выставки SEMICON в Сан-Франциско.

О компании: Keithley Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.