EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Сураб Даз


Статьи этого автора


Теория и практика тестирования и отладки устройств USB 2.0
Теория и практика тестирования и отладки устройств USB 2.0

Номер журнала: КИПиС 2020 № 6

USB 2.0 продолжает оставаться одной из самых широко распространенных системных шин, используемых в разнообразных приложениях благодаря своей надежности, простоте использования и экономической эффективности. Несмотря на то, что это не самая быстрая версия USB со скоростью передачи данных до 480 Мбит/с, она применяется для решения огромного количества задач...

 

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.