English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(488)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(568)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(466)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

III Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология, стандартизация и управление качеством»

III Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология, стандартизация и управление качеством»

29.09.2018

С 14 по 20 октября 2018 г. в Омске пройдет III Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология, стандартизация и управление качеством».

Ключевая миссия Конференции – укрепление связей между университетскими научными исследованиями и предприятиями реального сектора экономики.

В конференции принимают участие студенты, аспиранты и ученые Омского государственного технического университета, а также представители других российских и зарубежных образовательных и научных организаций, промышленные предприятия.

В ходе конференции планируется рассмотреть следующие темы:

  • вопросы геометрических моделей реальных деталей в системе координат;
  • состояние и перспективы развития приборного парка в области бесконтактного теплового контроля;
  • научные принципы стандартизации;
  • тенденции развития систем менеджмента качества на основе международных стандартов ИСО серии 9000;
  • интеграция систем менеджмента качества с межотраслевыми и отраслевыми системами менеджмента;
  • другие актуальные вопросы в области стандартизации, метрологии и управления качеством. <

Конференция будет поделена на несколько секций:

  • Секция 1: Метрологическое обеспечение качества
  • Секция 2: Стандартизация и управление качеством продукции
  • Секция 3: Информационные технологии в современном производстве

Подробнее об условиях участия.

Источник: СО РАН
www.sbras.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть