English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар «Актуальные вопросы в области испытаний по требованиям электромагнитной совместимости (ЭМС) и строительстве безэховых экранированы камер (БЭК)»

Семинар «Актуальные вопросы в области испытаний по требованиям электромагнитной совместимости (ЭМС) и строительстве безэховых экранированы камер (БЭК)»

29.04.2019

Rohde & Schwarz приглашает принять участие в техническом семинаре «Актуальные вопросы в области испытаний по требованиям электромагнитной совместимости (ЭМС) и строительстве безэховых экранированы камер (БЭК)».

Семинар пройдет 15 и 16 мая 2019 г. в Санкт-Петербурге по адресу ул. Дивенская, 1, Бизнес-центр “Лангензипен”, офис 606 (м. Горьковская).

В программе семинара:

  • Обзор решений Rohde&Schwarz в области испытаний по требованиям электромагнитной совместимости (ЭМС)
  • Новая программная платформа R&S ELEKTRA для автоматизации испытаний на ЭМС
  • Практические особенности реализации проектов по строительству безэховых экранированных камер для испытаний на ЭМС

Для участия требуется предварительная регистрация.

Зарегистрироваться на 15 мая

Зарегистрироваться на 16 мая.

www.rohde-schwarz.com


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"