English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(488)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(569)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(466)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости

12.11.2007 | 2692
Новый векторный анализатор ВЧ-сигналов В спектре продукции компании Keithley (США) появилась новая модель векторного анализатора высокочастотных сигналов Model 2820, предназначенного для использования при разработке и тестировании средств мобильной связи и решения других прикладных измерительных задач ВЧ диапазона. Прибор обеспечивает работу в режимах обычного спектроанализатора с перестраиваемым гетеродином и векторного анализатора с цифровым/аналоговым демодулятором.

08.11.2007 | 2767
Новый универсальный частотомер Компания Pendulum Instruments (Швеция) выпустила новый частотомер CNT-91, который является дальнейшим развитием линейки мощных и универсальных частотомеров CNT-90. В стандартной комплектации прибор обеспечивает измерения частоты, периода и промежутков времени, фазы, амплитуды, скважности, длительности и времени нарастания фронтов импульсов.

08.11.2007 | 3008
Новый мультиметр KEITHLEY В ряду высокопроизводительных профессиональных цифровых мультиметров компании Keithley (США) появилась новая модель — 6½-разрядный мультиметр DMM2100 с USB интерфейсом. Как сообщается, это первый в своем классе настольный мультиметр, цена которого на рынке США не превышает 1000 долларов.

01.11.2007 | 3149
PXI приборы National Instruments со скоростью записи до 600 МБ/с Новейшие PXI приборы National Instruments позволяют обрабатывать потоковые данные с недостижимой ранее скоростью на стандартных промышленных платформах тестирования и управления. Семейство новых приборов на основе технологии PXI Express включает в себя модульный прибор, встроенный контроллер и RAID массив жестких дисков для записи и чтения со скоростью до 600 МБ/с. С такими возможностями потоковой обработки данных приложения сбора и генерации данных выходят на гораздо более высокий уровень, уменьшается время тестирования и позволяют решить более сложные задачи.

28.09.2007 | 3218
Микроволновое измерительное оборудование высшего класса от Rohde & Schwarz В этом году, на 10-й Европейской микроволновой неделе, которая пройдет с 8 по 12 октября в Мюнхене, компания Rohde & Schwarz (Германия) планирует продемонстрировать множество новинок...

27.09.2007 | 3036
Портативные USB датчики мощности Новые портативные датчики мощности серии U2000, разработанные компанией Agilent Technologies (США), представляют законченное экономичное решение, существенно упрощающее процесс измерения мощности, особенно в полевых условиях. Датчики серии U2000 не требуют использования специализированных измерителей мощности — с помощью USB-кабеля они могут непосредственно подключаться к персональному компьютеру или любому другому прибору Agilent: генератору сигналов, анализатору спектра (включая портативные), анализатору цепей и т. д., что расширяет возможности этих приборов по точному измерению мощности.

25.09.2007 | 2998
Новая серия мультиметров FLUKE В спектре продукции компании Fluke (США) появилась новая серия ручных цифровых мультиметров — Fluke-280, в которую входят 2 модели: 287 и 289. Новые приборы имеют жидкокристаллический дисплей с графической матрицей 320x240 (¼ VGA), с разрядностью 50000, индикатором реального времени и даты и быстродействующей аналоговой графической шкалой, позволяющей отслеживать динамику быстрых процессов. На дисплее может одновременно отображаться нескольких измеряемых величин, что обеспечивает быстрое получение необходимой информации.

17.09.2007 | 3993
Новые анализаторы последовательных потоков данных компании Tektronix дополняют испытательную систему PCI Express 2.0

Компания Tektronix, Inc. (NYSE: TEK), ведущий поставщик контрольно-измерительного оборудования и оборудования для тестирования, объявила о выпуске новых анализаторов последовательных потоков данных TLA7S16 и TLA7S08, предназначенных для тестирования и проверки конструкций с шинами PCI Express (PCIe) 1.0 и 2.0. В отличие от анализаторов протоколов конкурирующих производителей, новые анализаторы последовательных потоков данных компании Tektronix наряду с выполнением матричного анализа предоставляют подробные сведения о протоколе PCIe 2.0. Эти анализаторы дополняют наиболее полную в отрасли испытательную систему шин PCIe и способствуют разработке высокоскоростных вычислительных платформ следующего поколения.

12.09.2007 | 2863
21-22 августа в Москве состоялся семинар компании Fluke (США), который она провела для своих российских дистрибьюторов. В ходе семинара была представлена новая торговая и маркетинговая политика компании в России. Компания Fluke планирует активное расширение рынка для своей продукции и ориентируется на значительный рост продаж в ближайшее время — до 7% ежегодно в течение ближайших 3-5 лет.

10.09.2007 | 2978

В конце августа успешно завершились испытания для целей утверждения типа средств измерения широкой номенклатуры новых приборов и модификации прежних серий измерительного оборудования известной американской компании Tektronix. По результатам испытаний принято решение об утверждении типов средств измерений, их государственной регистрации и выданы соответствующие сертификаты.


Новости

24.06.2019
Метод «с оптоволоконной линией задержки» ускоряет поверку облакомеров в сотни раз
23.06.2019
Курс повышения квалификации «Новая версия ИСО/МЭК 17025:2017. Компетентность и система менеджмента качества испытательных лабораторий с учетом новых требований»
22.06.2019
Во ВНИИМ им. Д.И.Менделеева обсудили перспективы развития физико-химических измерений
20.06.2019
В России создается технический комитет по стандартизации в сфере ИИ
16.06.2019
Уральские метрологи работают над новыми стандартными образцами в области магнитных измерений
15.06.2019
Об итогах мероприятий в рамках МГС СНГ в Ташкенте
12.06.2019
Метрология цифровой экономики в действии
11.06.2019
Идеологией ВНИИМС на MetrolExpo’2019 стала законодательная и практическая поддержка российских производителей
10.06.2019
ВНИИМ им. Д.И. Менделеева представил лучшие практики для российско-финского сотрудничества
09.06.2019
Научно-практический семинар «Внутренний аудитор лаборатории на соответствие стандарту ISO/IEC 17025:2017»

Технические регламенты

31.08.2018
ТР "О безопасности оборудования, работающего под избыточным давлением". Порядок подтверждения соответствия
28.07.2018
Разъяснение Росаккредитации о применении переменных символов в сертификатах соответствия и декларациях о соответствии
03.02.2018
Технический регламент "Об ограничении применения опасных веществ в изделиях электротехники и радиоэлектроники" (ТР ЕАЭС 037/2016)
12.12.2017
Технический регламент «Требования к сжиженным углеводородным газам для использования их в качестве топлива» (ТР ЕАЭС 036/2016)
14.02.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений содержания компонентов в газовых средах"
10.01.2016
Вступил в силу новый межгосударственный стандарт на термины и определения в области измерений времени и частоты
03.01.2016
Новый ГОСТ "Государственная поверочная схема для средств измерений угла фазового сдвига между двумя электрическими сигналами в диапазоне частот от 0,1 МГц до 65 ГГц"
26.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz в диапазоне от 0,001 до 3000 мкм и Ra в диапазоне от 0,001 до 750 мкм
19.12.2015
Новый ГОСТ Государственная поверочная схема для средств измерений силы
17.10.2015
Новые ГОСТы, устанавливающие требования ЭМС

Новости сайта

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Выставки